蔡司高分辨三維X射線顯微鏡Xradia 610 & 620 Vers在科研和工業(yè)研究領域為您開啟多樣化應用的新高度。基于高分辨率和襯度成像技術，Xradia 610 & 620 Versa 大大拓展了亞微米級無損成像的研究界限。
  采用光學加幾何兩級放大成像架構，可實現(xiàn)大樣品高分辨率成像。閃爍體和光學物鏡耦合技術可實現(xiàn)高襯度和增強的相位襯度成像?；诟叻直媛屎鸵r度，蔡司X射線顯微鏡 Xradia 600 系列 Versa 拓展了無損成像的研究界限，提高研究靈活性，加快研究進展。
  創(chuàng)新的數據采集工作流讓您無需對樣品進行切割即可實現(xiàn)對搜索合發(fā)現(xiàn)的感興趣區(qū)域進行高分辨成像。